Vụ nổ pin trên Galaxy Note 7 là bắt nguồn từ "thiết kế linh hoạt"

10:19, Thứ Hai, 05/12/2016 (GMT+7)

(XHTT) - Samsung dường như đã rất liều lĩnh khi muốn trang bị một viên pin dung lượng lớn hơn cho một chiếc smartphone mỏng và gọn hơn. Cuối cùng kết quả thu về thật thảm hại

Mặc dù đã gần 03 tháng trôi qua kể từ khi Samsung sung tiến hành thu hồi những chiếc Note 7 đầu tiên để điều tra nguyên nhân sự cố dẫn đến nổ pin, buộc tập đoàn phải ngừng vĩnh viễn việc bán cũng như sản xuất thiết bị này.

Để trấn an dư luận, Samsung cam kết sẽ công bố kết quả điều tra vào cuối năm nay, vì vâỵ tập đoàn này vẫn còn vài tuần để thực hiện lời hứa của mình.

Hình ảnh chiếc Galaxy Note 7 sau khi xảy ra sự cố cháy nổ
Hình ảnh chiếc Galaxy Note 7 sau khi xảy ra sự cố cháy nổ

Tuy nhiên, đến thời điểm này, có vẻ như dư luận đã có được phần nào câu trả lời, liệu một lần nữa Samsung có quá chậm chễ trong việc đưa ra thông báo chính thức về vụ việc.

Instrumental – là nhà thầu của bên thứ 3 chuyên hỗ trợ các công ty phần cứng tìm và khắc phục các sự cố liên quan đến tay nghề của công nhân, chất lượng các linh kiện, thiết kế sản phẩm và quy trình sản xuất… vừa công bố kết quả điều tra riêng của mình về vụ nổ pin trên Note 7.

Theo Instrumental, nguyên nhân của sự cố là do thiết kế linh hoạt trên chiếc flagship này khiến nó không phù hợp với các dòng pin thay thế mà Samsung cung cấp. Cũng theo phát hiện của công ty này, thiết kế của Note 7 có thể nén lên viên pin ngay cả trong hoạt động bình thường.

Rõ ràng, các kỹ sư của Samsung đã thiết kế ra một viên pin không đủ độ dày, nên dễ bị tác động bởi các bộ phận khác bên trong thiết bị. Có thể thấy, việc các nhà sản xuất smartphone không ngừng phát triển các dòng thiết bị màn hình lớn hơn, vi xử lý nhanh hơn và mỏng nhẹ hơn mà lại muốn pin mạnh mẽ hơn. Nỗi ám ảnh muốn có thiết bị ngày càng mỏng nhẹ hơn đòi hỏi các nhà sản xuất phải có pin mỏng hơn, đây cũng là lý do khiến các thiết bị điện thoại thông minh hiện nay rất dễ cháy nổ.

Mặc dù, Samsung đã cố gắng cân bằng những rủi ro trong quá trình sản xuất nhằm phát huy tối đa công suất của pin, trong khi vẫn nỗ lực ngầm để lắp đặt trên thiết bị, nhưng giải pháp này của Samsung đã thất bại.

Bên cạnh đó, còn một nguyên nhân nữa dẫn đến khả năng nổ pin trên thiết bị, đó là trong một số trường hợp việc thử nghiệm pin có thể mất đến cả năm trời với hàng nghìn khâu kiểm tra nghiêm ngặt khác, trong khi Samsung đã không có đủ thời gian để thực hiện các thử nghiệm thích hợp trên các phiên bản pin mới.

Samsung trang bị một viên pin mỏng hơn cho Galaxy Note 7 để có được thiết kế bắt mắt, nhưng tuổi thọ pin trên thiết bị này lại kém hơn so với người tiền nhiệm Galaxy Note 5, cũng như iPhone 7 Plus của Apple.

Đôi khi đổi mới đòi hỏi phải chấp nhận rủi ro, nhưng thử nghiệm thực tế luôn là điều cần thiết, đặc biệt là sản phẩm đó nằm trong tay hàng triệu người và ảnh hưởng trực tiếp đến tính mạng của họ. Với Galaxy Note 7, Samsung đã hoàn toàn thất bại, hy vọng từ đây tập đoàn này đã thu về cho mình một bài học lớn.

Hoàng Thanh (theo Smedia)
 

.
.
.
.
.

.
.
.